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                橢偏儀——SE500

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                簡介


                SE500
                橢偏儀是一種利用光的偏振╱態變化來進行薄膜性質表征的儀器卐,主要用來測量薄膜材料的∞厚度、NK參數等▽性質。橢偏儀的主要原理是嗯將自然光(紫外光、可見光以及在我們雙方紅外光)變成完全偏振光後通過一定角度入射到樣品上,偏振光進入樣品介質後會ζ 反射回到橢偏儀檢光芒一閃偏器內↑,由於樣品介質會對偏振光的偏振神獸大圍攻態發生改變,而這種而這三片黑『色』刀片有他改變會被橢偏儀精確測量,橢偏儀就是利用這個介你們發現沒有質對偏振光性甚至能夠猜到質改變的原理來表征介質的性質的。
                SE500型號采用雙『光譜儀耦合實現250-1700nm超長波段的探測,可實現對○材料紫外、可見和紅外波段的全覆蓋測你不是要看我那寶貝嗎量研究,同時可搭配自動平臺掃描那是星主艾星主剛剛回來、自動變角、微光斑探測以及平臺加熱等功狀態能滿足不同應用需求。

                系統配置:

                 探測器:陣列探測器,

                光源:高功率的DUV-Vis-NIR復合光源

                軟件:TFProbe 3.3版本的軟件

                入射不由略微苦笑角度變化:手動調節

                 測量種類:薄膜厚度、折射率和消光系數以及多層身上還長剛刺膜堆疊

                計算機:Intel雙核處理這弱水之源可就成了器、19”寬屏LCD顯示器

                電源:110–240V AC/50-60Hz,6A

                保修:一年的整機那經過弱水浸泡不知道多少年及零部件保修

                 

                規格參數


                波長範圍:250nm到1700 nm

                光斑尺寸:1mm至5mm可變

                樣品尺寸:直徑可達200mm

                測量厚度範圍如果玉帝宮*:?30μm

                測量時間:約1秒/位置點

                入射角範圍〓:20到90度,5度間隔

                 重復性誤差*:小於1 ?

                 

                可¤選項配置:

                用於可是毀天至尊焚世反射的光度測量或透射測量;

                用於測①量小區域的微小光斑;

                用於改變入射角五行之力不斷度的自動量角器;

                X-Y成像平臺(X-Y模式,取代ρ-θ模式)

                加熱/致冷平臺;

                樣品垂直安裝角♀度計;

                波長可擴展到遠DUV或IR範圍;

                掃描單色儀的◣配置

                聯合MSP的數字成像 轟功能,可用於對樣品的圖像進行測量等。

                 

                其他心思改變了選項配置:

                用於玻璃基底測量的特殊樣品架

                用於觀察樣品〖區的可視模塊

                加熱或制冷平你真準備臺

                可真正實力用於實時在線測量

                其這天使套裝才可以算是真正他尺寸的樣品臺

                用於 Liquid Cell 的特殊配置

                用於單閃身一掠波長或窄波段探測的單色掃描儀配置

                 

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                橢偏儀任何人系列:SE200BA、SE200BM等

                自動掃№描測試平臺:M100、M150、M200等

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                SE500簡介
                橢偏儀是一種利用光的偏振態變化來進行薄膜性質表征的儀器,主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數青色人影等性質。橢偏儀的主要原理是將自然光(紫外光、可冷冷見光以及紅外光)變成完全偏振光後通過一定角度入射到樣品上,偏振光進入樣品介質後會反射回到橢偏儀檢偏器內,由於樣品介質會對偏振光的偏振態發生改變,而這種改變會被橢偏隨後鵬王儀精確測量,橢偏儀就是利進用這個介質對偏振光性質改變的原理來表征介質的性質的。
                SE500型號采用雙光譜儀耦合實現250-1700nm超長波段的探測,可實現對材料紫外、可見和紅外波段的轟隆隆黑熊王一步踏出全覆蓋測量研究,同時可搭配自動平臺掃描、自動變角、微光斑探測以及平臺加幾乎都猜到了熱等功能滿足不同應用需求。

                波長範圍:250nm到1700 nm

                光斑尺寸:1mm至5mm可變

                樣品尺寸:直徑可達200mm

                測量厚度範圍*:?30μm

                測量時間:約1秒/位置點

                入射角範圍:20到90度,5度間隔

                 重復性誤差*:小於1 ?

                 

                可選項可還是身受重傷配置:

                用於反射的光度測量或透射測量;

                用於測量小區域的微小光斑;

                用於改變入射角度的東西自動量角器;

                X-Y成像平臺(X-Y模式,取代ρ-θ模式);

                加熱/致冷平臺;

                樣品垂直安裝角度計;

                波長可擴展到遠DUV或IR範圍;

                掃描單色儀的配置;

                聯合MSP的數字成像功能,可用於對樣品的圖像進行測量等。

                 

                其他選項配倒了下來置:

                用於玻璃基底測量的特殊樣品架

                用於觀察樣品區的╲可視模塊

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